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RC-02B分辨率測試卡X射線分辨率測試卡致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質量。
更新時間:2024-05-10RT CT-01 JIMA分辨率卡致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質量。
更新時間:2024-05-21RC-04分辨率測試卡是一種用于設置和測試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率,對應于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。
更新時間:2024-05-10分辨率測試卡是一款采用最新半導體光刻技術制作的微型測試卡。它用于校準和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統(tǒng)獲得高質量的結果。
更新時間:2024-05-10CONTACT
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