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簡要描述:分辨率測試卡是一款采用最新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型測試卡。它用于校準和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。
品牌 | 日本JIMA |
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日本JIMA RT RC-05B分辨率測試卡,JIMA分辨率測試卡詳細介紹:
JIMA RT RC-05B分辨率測試卡是一款采用最新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測試卡。
RC-05B 分辨率測試卡用于校準和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米(3 µ m至50 µ m)的分辨率。這對應(yīng)于6微米和100微米(6 µ m和100 µ m)之間的焦斑尺寸。
16組I&T布局,2x2 mm,8x8 mm硅基,如上圖
下圖為尺寸為5 μm I&T的圖像
Au Slit的數(shù)量為3行和2個空格
寬度3至10 μm:T形布局
寬度15至50 μm:I形布局L/S寬度
L/S寬度:3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm
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