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簡(jiǎn)要描述:RC-05分辨率測(cè)試卡致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器,JIMA分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
品牌 | 日本JIMA | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
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JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡,X射線分辨率測(cè)試卡詳細(xì)介紹:
JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm
芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm
圖案布局:T型 (3-10μm)
I 型 (15-50μm)
線/空間尺寸:16種規(guī)格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型)
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
JIMA(日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)),致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器,JIMA分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
SAG: JIMA RT RC-05,RT RC-05,JIMA分辨率測(cè)試卡,分辨率測(cè)試卡,X射線分辨率測(cè)試卡
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