KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042詳細介紹:
KARL DEUTSCH
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術(shù),操作簡便。還包括通過解鎖代碼進行快速現(xiàn)場升級的選項。
系統(tǒng)可定制的涂層測量
用于測量磁性基材上的非磁性涂層的厚度(根據(jù)DIN EN ISO 2178)并通過渦流法測量非磁性導電基材上的非導電涂層的厚度(根據(jù)DIN EN ISO 2360)。
應用可靠的技術(shù)與舒適的工具相結(jié)合,例如將厚度值顯示為模擬指針,類似于Windows的文件管理以及10種不同語言的免費選擇,可以滿足有抱負的用戶的所有愿望。
LEPTOSKOP 2042是一款經(jīng)濟型儀器,電池使用壽命超過100小時。
該儀器會記錄操作時間和測量次數(shù),因此這些重要參數(shù)本身可用于正確跟蹤測試設(shè)備。
供貨范圍內(nèi)包括彩色橡膠保護套,并具有防滑保護功能,可在工業(yè)環(huán)境中保護儀器。
特點:大型圖形顯示屏48毫米x 24毫米,帶照明
校準選項:
出廠前已校準,可立即進行測量
在未知涂層上校準*
零位校準*
在未涂覆的基材上進行一次和多箔校準*
校準涂層材料*
校準數(shù)據(jù)可以單獨存儲在單獨的校準文件中,也可以從那里重新加載。
可選擇的顯示模式,以地適應測量任務*
輸入和監(jiān)控限額*
在Windows©下可以輕松管理文件來存儲讀數(shù)*
可與PC軟件 EasyExport和 iCom一起使用
統(tǒng)計*
統(tǒng)計評估多達999個讀數(shù)
最小,,平均值,讀數(shù)數(shù)量,標準偏差,限值監(jiān)控
局部厚度和平均涂層厚度(DIN EN ISO 2808)
在線統(tǒng)計,所有統(tǒng)計值一目了然
選型:LEPTOSKOP 2042具有三種配置級別:
基本 -質(zhì)量可靠的基本功能
統(tǒng)計 -附加統(tǒng)計評估
統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲 -統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲
如果需要,可以隨時將量規(guī)升級到高級和/或?qū)I(yè)級別。升級過程通過代碼執(zhí)行,可以在現(xiàn)場輸入代碼以解鎖模塊“統(tǒng)計"和/或“統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲"。如果要為新的測量需求添加功能,則無需將儀表返回KARL DEUTSCH進行升級或購買新儀表。
技術(shù)數(shù)據(jù) |
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串行接口 | 用于將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB |
電源 | 通過電池,USB或電源裝置 |
測量范圍 | 0-20000 µm(取決于探頭) |
測量率 | 每秒高達2個讀數(shù) |
存儲 | 最高 9999個讀數(shù)(最多140個文件) |
測量不確定度 (校準后) | 涂層厚度<100 µm:讀數(shù)的1%+/- 1 µm 涂層厚度> 100 µm:讀數(shù)的1.0.3%+/- 1 µm 涂層厚度> 1000 µm:讀數(shù)的3..5% /-10 µm 涂層厚度> 10000 µm:讀數(shù)的5%+ /- 100 µm |
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附件 |
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